光時域反射儀(OTDR)測試注意事項
日期:2018-12-17 點(diǎn)擊:1837
一般用自動測試狀態(tài)先測一次,知道大概的距離,然后再見設(shè)置參數(shù)設(shè)置,第一個參數(shù)量程,選為實際距離的115%左右即可;長距離大脈沖,短距離小脈沖!而且測試用尾纖也要匹配,一般OTDR的光纖適配器都是FC/PC的,如果和APC對接有一定的誤差產(chǎn)生。影響測量精度;
第二個參數(shù)是折射率,按照所測試光纖的折射率進(jìn)行設(shè)置,如果未知,一般設(shè)為1.46~1.47;第三個為脈沖寬度,比較不太好選的,一般OTDR會提供幾個選項;
第四個為測試時間,一般最好30秒以上;
對于損耗等,可進(jìn)行閾值的設(shè)置。
具體步驟如下:
一、開機(jī)
二、測試前準(zhǔn)備
正常運(yùn)行后就可對所需測試線路進(jìn)行測試。先把測試跳線進(jìn)行檢查,包括清潔相關(guān)接頭和接口、光纖配線架上接口也應(yīng)相應(yīng)清潔,該跳線是否有斷裂問題,可用可見光故障定位儀確定,然后將跳線擰緊至OTDR光接口部分,注意該接口類型.
三、測試參數(shù)
測試模式先選擇簡單模式為上,點(diǎn)擊測試鍵后得到測試結(jié)果,得出測試距離,在選擇平均模式,選擇合適的量程和脈寬,對于OTDR,量程和脈寬也可直接選擇自動即可,也省下以上的步驟。
在測試過程中,我們主要選擇6個參數(shù),上述2個直接選擇自動可測,波長參數(shù), OTDR為單模OTDR,選擇1310nm/1550nm,二者測試均可,注意一下就是不要用1550nm測試1KM長度以內(nèi)的光纖,1550對測試光纖接頭損耗相對敏感度要高。
參數(shù)掃描時間設(shè)定范圍是6秒~600秒,一般建議測試時長為30-90秒(指平均掃描),不設(shè)限制,注意的是測試時間越長結(jié)果越準(zhǔn)確,建議上限是240秒。
參數(shù)折射率很重要,此也是OTDR測試結(jié)果正確的前提條件,折射率參數(shù)可直接詢問客戶可知,在客戶不知情況下,1310nm一般為1.4677,1550nm一般為1.4682,兩者都可用參數(shù)為1.4700,相對1.4700更為普遍些。
參數(shù)靈敏度在系統(tǒng)設(shè)置中選擇,為5個檔次:很高、高、中等、低、很低,對應(yīng)的損耗值大致為0.02db、0.5db、0.8db、1.5db、2db左右(損耗值為虛數(shù)),可根據(jù)實際測試來選擇,如果抓精確事件點(diǎn),選擇很高較好,一般選中等即可,實際情況而定。
測試參數(shù)設(shè)定好以后即測試,測試結(jié)果直接從事件列表中可得到,在左側(cè)窗口中可直接獲得全程長度、全程損耗、平均損耗,其余參數(shù)為兩點(diǎn)間參數(shù),移動A、B游標(biāo)參數(shù)隨之改變,兩點(diǎn)損耗即是A、B間損耗,LSA兩點(diǎn)損耗為A、B游標(biāo)間最小二乘法平均損耗,兩者屬于算法的不同,需要注意的是事件列表中的LSA損耗值,其標(biāo)稱的值即該事件造成的損耗值的大小,屬于名稱的誤寫,寫成“事件損耗”更佳。
四、結(jié)果判斷
判斷一次測試是否成功,從兩個方面來考慮:第一即觀看該曲線的波形,是否為一條平滑的線,一般接頭沒有接好的曲線是在起始點(diǎn)直接向下,即光能量直接卸掉;第二看測試結(jié)果,主要看全程損耗或者平均損耗,按照現(xiàn)在的石英光纖制造水平,。1310nm的光纖衰減為0.3~0.4db/km,1550nm的光纖衰減為0.15~0.25 db/km,測試結(jié)果平均損耗如超過0.1db/km也算是基本正常,一般根據(jù)用戶線路狀況而定,在測試的過程中如有跳線接頭類型的轉(zhuǎn)換時其引起的損耗也要考慮進(jìn)去。